Mit der neuen Heliotis H8/H8M-Integration liefert EyeVision detaillierte submikrometergenaue 3D-Oberflächenhöhendaten direkt in die bestehende Bildverarbeitungsumgebung. Anwender verknüpfen Weißlichtinterferenzmessungen mit 2D- und 3D-Bildanalyse, KI-gestützter Fehlererkennung sowie Code-Lesetools. Die erzeugten 3D-Punktwolken und Höhenkarten stehen für Flächen-, Volumen- und Profilvergleiche bereit. Eine hardwareunabhängige Softwareplattform und der Drag-and-Drop-Workflow-Editor ermöglichen eine zügige Einrichtung, flexible Anpassung und präzise Automatisierung anspruchsvoller Inspektionsaufgaben. Messketten können ohne Programmierung erstellt, Validierungen automatisiert, Ergebnisse protokolliert und Berichte zentral archiviert werden. effizient.
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Direkte Erfassung H8/H8M Höhendaten in EyeVision mit vielseitigen Analysewerkzeugen
Mit der neuen Sensoranbindung lassen sich submikrometergenaue Höhendaten der H8/H8M-Sensoren direkt in EyeVision importieren und über den Drag-and-Drop-Workflow-Editor mit 2D-, 3D-, KI- und Code-Lese-Modulen kombinieren. Die Integration erfolgt innerhalb der einheitlichen Benutzeroberfläche, wo Anwender alle Mess-, Analyse- und Automatisierungsfunktionen übersichtlich anordnen und individuell konfigurieren können. Dank dieser zentralen Plattformarchitektur werden Kompatibilitätsprobleme ausgeschlossen, während parallele Auswertungen und Prozessoptimierungen effizient realisiert werden. Die offene Struktur ermöglicht zudem schnelle Anpassungen an unterschiedliche Automatisierungsumgebungen.
H8-Höhensensor ideal für exakte submikrometergenaue Planaritätsprüfung und feindetaillierte Oberflächenkontrolle
Der H8-Interferometer liefert dank Weißlichtinterferenz-Technologie submikrometergenaue Höhendaten, mit denen selbst geringste Unebenheiten und Mikrorauheiten in Oberflächen zuverlässig dokumentiert werden. Diese exakte Profilerfassung ist besonders wertvoll für Zertifizierungen und Prozessvalidierungen im Halbleiter- und Feinmechanikbereich. Durch die präzise Abbildung von Planaritätsabweichungen werden Fehlstellen frühzeitig erkannt und Korrekturmaßnahmen effizient eingeleitet. Anwender profitieren von reduzierten Ausschussraten und einer kontinuierlichen Verbesserung ihrer Produktionsqualität. Das System bietet hohe Reproduzierbarkeit, einfache Integration in Anlagen und minimalen Schulungsaufwand.
Innovatives H8 WLI ermöglicht hochpräzise wiederholte Oberflächenprüfung im Submikrometerbereich
Durch die hochdynamische WLI-Technologie des H8 entstehen präzise Höhenprofile mit minimalen Messunsicherheiten, die selbst winzige Oberflächenfehler detektieren. Die ermittelten Daten lassen sich mehrfach reproduzieren und liefern eine belastbare Basis für detaillierte Analysen. Diese Methode unterstützt adaptive Prüfstrategien und verbessert Prozessstabilität signifikant. Insbesondere in der Medizintechnik, Halbleiterfertigung oder Präzisionsoptik gewährleistet sie eine einheitliche Qualitätssicherung und trägt zur Reduzierung von Nacharbeit und Ausschusskosten bei und ermöglicht eine lückenlose Rückverfolgbarkeit Messergebnisse in Produktionslinien.
Direkte Auswertung hochauflösender 3D-Punktwolken und Höhenkarten ohne zeitaufwändige Vorverarbeitung
Über eine nahtlose Datenpipeline werden 3D-Punktwolken und präzise Höhenkarten automatisch in EyeVision importiert. Dort steht eine umfassende Auswahl an Analysewerkzeugen bereit, inklusive Flächen- und Volumenmessfunktionen, die sofort einsatzfähig sind. Die Kantenerkennung identifiziert geometrische Konturen exakt, während Profilvergleiche Abweichungen zwischen einzelnen Scans transparent visualisieren. Durch diese integrierte Herangehensweise lassen sich Inspektionsabläufe beschleunigen, Qualitätssysteme verbessern und reproduzierbare Messresultate in anspruchsvollen Fertigungsumgebungen sicherstellen. Anwender sparen Zeit und reduzieren Fehlerquellen, was insgesamt Effizienz steigert.
Hardwareunabhängige EyeVision Plattform erweitert Kompatibilität um 3D Hyperspektral Kameras
Die hardwareunabhängige Plattformlösung EyeVision garantiert uneingeschränkte Kompatibilität mit verschiedensten Kameratypen und Sensoren. Durch die Integration von Heliotis H8/H8M 3D-Interferometern profitieren Anwender von submikrometergenauen Höhendaten. Gleichzeitig lassen sich Zeilenkameras, 2D-Kameras, Wärmebild- und Hyperspektralkameras sowie Smart-Kameras in einem Workflow kombinieren. Standardisierte Schnittstellen wie USB3, GigE Vision und GenICam sorgen für reibungslose Datenübertragung. Damit entspricht die Lösung hohen Anforderungen an Flexibilität, Skalierbarkeit und nahtlose Einbindung in Automationsumgebungen. Ohne Mehraufwand bei Treibern und Hardwareadaptionen.
Schnelle Messkettenkonfiguration mit dem visuellen Workflow-Editor und direktem Werkzeugzugriff
Mit dem visuellen Drag-and-Drop-Editor wird das Erstellen präziser Messketten zum Kinderspiel. In wenigen Schritten fügen Anwender Messmodule für hochauflösende Messtechnik, automatische Fehlererkennung, detaillierte Oberflächenanalyse sowie leistungsstarke 3D-Punktwolken-Bearbeitung zusammen. Die grafische Arbeitsfläche visualisiert den Ablauf und erlaubt unmittelbares Feedback. Durch die Kombination spezialisierter Werkzeuge entsteht eine durchgängige Prozesskette, die anspruchsvolle Inspektionsaufgaben beschleunigt. Eine integrierte Ergebnisübersicht erleichtert Auswertungen und Dokumentationen signifikant. Der modulare Aufbau sorgt für einfache Erweiterungen und minimiert Wartungsaufwand nachhaltig.
EyeVision optimiert Automatisierung durch schnelle Inbetriebnahme und universelle Kompatibilität
EyeVision bietet eine schnelle Anbindung an Automationshardware durch modulare Treiber und Schnittstellenbibliotheken. Nach der Installation stehen sofort Grundfunktionen für Bildaufnahme, Analyse und Steuerung zur Verfügung. Die Software skaliert je nach Systemkapazität von schlanken Embedded-Geräten bis zu leistungsstarken Windows- und Linux-Servern. Erweiterungen, Sensoranbindungen oder KI-Module lassen sich unkompliziert integrieren. Dadurch sinkt die Entwicklungszeit und Produktionslinien können zügig angepasst werden. Wartungszyklen werden verkürzt, und Betriebskosten bleiben niedrig. In Echtzeit überwacht das System.
Reproduzierbare Oberflächenprofilierung und präzise Qualitätskontrolle durch EyeVision H8 H8M
Durch die Integration der Heliotis H8/H8M-Sensoren generiert EyeVision hochdichte 3D-Punktwolken sowie präzise Höhenkarten im Submikrometerbereich. Die innovative Verbindung von Weißlichtinterferenz und umfangreichen Analysefunktionen erlaubt detaillierte Flächen- und Volumenmessungen, Kantenerkennung und Profilvergleiche. Die hardwareunabhängige Software kann einfach via Drag-and-Drop konfiguriert werden und läuft sowohl auf Windows- als auch Linux-Plattformen. Anwender profitieren von schnellen Implementierungszeiten, konsistenten Messergebnissen und automatisierten Prüfabläufen für komplexe Fertigungsprozesse. Die Lösung unterstützt OEM- und Inline-Anwendungen gleichermaßen und erleichtert so eine nahtlose Integration in Produktionslinien.
